作品 · work_ieee_256_1963
IEEE Std 256-1963 · 關係
IEEE Std 256-1963 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1963 年。
出版方
- 出版方 电气电子工程师学会
相關主題
- 相關主題 IEEE 标准
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知識庫
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作品 · work_ieee_256_1963
IEEE Std 256-1963 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1963 年。