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作品 · work_ieee_300_1969

IEEE Std 300-1969

IEEE Std 300-1969 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1968 年。

更新於 · rev 1 · 別名：300-1969 300-1969 - USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

IEEE Std 300-1969（USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 1968 年，主题领域包括 Nuclear Engineering、Power, Energy and Industry Applications、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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資料來源

  1. IEEE Std 300-1969 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=300-1969; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01