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作品 · work_ieee_300_1982

IEEE Std 300-1982

IEEE Std 300-1982 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1992 年。

更新于 · rev 1 · 别名：300-1982 300-1982 - IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

IEEE Std 300-1982（IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 1992 年，主题领域包括 Nuclear Engineering、Power, Energy and Industry Applications、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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资料来源

  1. IEEE Std 300-1982 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=300-1982; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01