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作品 · work_ieee_n42_31_2003

IEEE Std N42.31-2003

IEEE Std N42.31-2003 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2003 年。

更新于 · rev 1 · 别名：N42.31-2003 N42.31-2003 - American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation

IEEE Std N42.31-2003（American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2003 年，主题领域包括 Nuclear Engineering[1]。参见IEEE 标准。

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资料来源

  1. IEEE Std N42.31-2003 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=N42.31-2003; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩