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أعمال · work_ieee_1450_6_2005

IEEE Std 1450.6-2005

IEEE Std 1450.6-2005 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data-Core Test Language (CTL)”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2006 年。

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IEEE Std 1450.6-2005（IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data-Core Test Language (CTL)）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2006 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。

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المصادر

  1. IEEE Std 1450.6-2005 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1450.6-2005; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01