IEEE Std 1450.6-2005（IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data-Core Test Language (CTL)）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2006 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 1450.6-2005
IEEE Std 1450.6-2005 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data-Core Test Language (CTL)”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2006 年。
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Fonti
- IEEE Std 1450.6-2005 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=1450.6-2005; status=Inactive; modifier=Reserved
↩ ↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01