IEEE Std 61671-5-2016（IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2016 年，主题领域包括 Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 61671-5-2016
IEEE Std 61671-5-2016 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2016 年。
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المصادر
- IEEE Std 61671-5-2016 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=61671-5-2016; status=Active; modifier=Approved
↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩