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작품 · work_ieee_61671_5_2016

IEEE Std 61671-5-2016

IEEE Std 61671-5-2016 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2016 年。

업데이트 · rev 1 · 다른 이름：61671-5-2016 61671-5-2016 - IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description

IEEE Std 61671-5-2016（IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2016 年，主题领域包括 Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。

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출처

  1. IEEE Std 61671-5-2016 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=61671-5-2016; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩