الترجمة غير متاحة؛ يُعرض النص الصيني الأصلي.

أعمال · work_ieee_759_1984

IEEE Std 759-1984

IEEE Std 759-1984 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers”;公开目录标为非现行(Inactive),已撤回(Withdrawn),著录年份为 1984 年。

آخر تحديث · rev 1 · أسماء أخرى:759-1984 759-1984 - IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers

IEEE Std 759-1984(IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers)是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行(Inactive),已撤回(Withdrawn),著录年份为 1984 年,主题领域包括 Nuclear Engineering[1]。参见IEEE 标准。

استكشف العلاقات

صفحة العلاقات →

Mentioned in

  • No body mentions yet.

المصادر

  1. IEEE Std 759-1984 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=759-1984; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards(KBART) · IEEE · 2026-11-01