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Obras · work_ieee_759_1984

IEEE Std 759-1984

IEEE Std 759-1984 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1984 年。

Actualizado · rev 1 · Alias：759-1984 759-1984 - IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers

IEEE Std 759-1984（IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1984 年，主题领域包括 Nuclear Engineering[1]。参见IEEE 标准。

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Fuentes

  1. IEEE Std 759-1984 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=759-1984; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01