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Werke · work_ieee_62528_2007

IEEE Std 62528-2007

IEEE Std 62528-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2007 年。

Aktualisiert · rev 1 · Andere Namen：62528-2007 62528-2007 - IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

IEEE Std 62528-2007（IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 2007 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Quellen

  1. IEEE Std 62528-2007 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=62528-2007; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01