knowledge
Bahasa Melayu

Terjemahan belum tersedia; teks asal bahasa Cina dipaparkan.

Karya · work_ieee_62528_2007

IEEE Std 62528-2007

IEEE Std 62528-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2007 年。

Dikemas kini · rev 1 · Nama lain：62528-2007 62528-2007 - IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

IEEE Std 62528-2007（IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 2007 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

Terokai hubungan

Halaman relasi →

Mentioned in

  • No body mentions yet.

Sumber

  1. IEEE Std 62528-2007 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=62528-2007; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01