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Karya · work_ieee_62860_2013

IEEE Std 62860-2013

IEEE Std 62860-2013 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2013 年。

Diperbarui · rev 1 · Nama lain：62860-2013 62860-2013 - IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials

IEEE Std 62860-2013（IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2013 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Sumber

  1. IEEE Std 62860-2013 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=62860-2013; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩