Çeviri mevcut değil; Çince özgün metin gösteriliyor.

Eserler · work_ieee_62860_2013

IEEE Std 62860-2013

IEEE Std 62860-2013是电气电子工程师学会(IEEE)发布的技术标准;公开目录标注状态为现行(Active),已批准(Approved),出版年约2013。

Güncelleme · rev 1 · Diğer adlar:62860-2013 62860-2013 - IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials

IEEE Std 62860-2013是电气电子工程师学会于2013年发布的技术标准[1]。目录题名为“62860-2013 - IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistors and materials”,当前公开目录中的状态为现行(Active),已批准(Approved),主题领域包括Components, Circuits, Devices and Systems[1]。

内容

本条仅依据 IEEE Xplore 公开标准目录(KBART)著录编号、题名、年份与状态等元数据,不收录付费全文[1][2]。该标准隶属总览主题IEEE 标准。

版本与影响

同一标准号的其他年版或修正案(若目录另有条目)应另建词条并互相链接;本条不推断未被目录列出的替代关系。

İlişkileri keşfet

İlişki sayfası →

Mentioned in

  • No body mentions yet.

Kaynaklar

  1. IEEE Std 62860-2013 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=62860-2013; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards(KBART) · IEEE · 2026-11-01 ↩ ↩