IEEE Std 581-1978（IEEE Standard Definitions, Symbols, and Characterization of Metal-Nitride-Oxide Field-Effect Transistors）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1978 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 581-1978
IEEE Std 581-1978 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Definitions, Symbols, and Characterization of Metal-Nitride-Oxide Field-Effect Transistors”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1978 年。
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Fonti
- IEEE Std 581-1978 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=581-1978; status=Inactive; modifier=Withdrawn
↩ ↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01