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作品 · work_ieee_581_1978

IEEE Std 581-1978

IEEE Std 581-1978 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Definitions, Symbols, and Characterization of Metal-Nitride-Oxide Field-Effect Transistors”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1978 年。

更新於 · rev 1 · 別名：581-1978 581-1978 - IEEE Standard Definitions, Symbols, and Characterization of Metal-Nitride-Oxide Field-Effect Transistors

IEEE Std 581-1978（IEEE Standard Definitions, Symbols, and Characterization of Metal-Nitride-Oxide Field-Effect Transistors）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1978 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas[1]。参见IEEE 标准。

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資料來源

  1. IEEE Std 581-1978 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=581-1978; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01