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作品 · work_ieee_641_1987

IEEE Std 641-1987

IEEE Std 641-1987 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Definitions and Characterization of Metal Nitride Oxide Semiconductor Arrays”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1988 年。

更新日 · rev 1 · 別名：641-1987 641-1987 - IEEE Standard Definitions and Characterization of Metal Nitride Oxide Semiconductor Arrays

IEEE Std 641-1987（IEEE Standard Definitions and Characterization of Metal Nitride Oxide Semiconductor Arrays）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1988 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas[1]。参见IEEE 标准。

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出典

  1. IEEE Std 641-1987 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=641-1987; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01