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작품 · work_ieee_p1838_d2_0_aug_2019

IEEE Std P1838_D2.0, Aug 2019 · 관계

IEEE Std P1838_D2.0, Aug 2019 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2019 年。