ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับ ต้นฉบับ: 简体中文

ผลงาน · work_ieee_p1838_d2_0_aug_2019

IEEE Std P1838_D2.0, Aug 2019 · ความสัมพันธ์

IEEE Std P1838_D2.0, Aug 2019 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2019 年。