ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_300_1982

IEEE Std 300-1982 · เวอร์ชันเนื้อหา

IEEE Std 300-1982 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1992 年。