Chưa có bản dịch; hiển thị bản gốc. Bản gốc: 简体中文

Tác phẩm · work_ieee_495_2007_4412392

IEEE Std 495-2007 · Niên biểu

IEEE Std 495-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Guide for Testing Faulted Circuit Indicators”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2007 年。