IEEE Std 1149.7-2009 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”;公开目录标为非现行(Inactive),保留(Reserved),著录年份为 2010 年。
Diese Website verwendet nur die Cookies, die nötig sind, um Redakteure angemeldet zu halten. Der Sprachassistent wird von dieser Website bereitgestellt: Er sendet, was Sie eingeben oder sagen, an Google Gemini und speichert Ihre Wahl in diesem Browser. Sprachassistent aktivieren? Datenschutzerklärung