作品 · work_ieee_1149_7_2009

IEEE Std 1149.7-2009 · 关系

IEEE Std 1149.7-2009 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”;公开目录标为非现行(Inactive),保留(Reserved),著录年份为 2010 年。

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