翻訳がないため、中国語の原文を表示しています。

作品 · work_ieee_1149_7_2009

IEEE Std 1149.7-2009 · 関係

IEEE Std 1149.7-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2010 年。