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Karya · work_ieee_510_1983

IEEE Std 510-1983

IEEE Std 510-1983 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1983 年。

Dikemas kini · rev 1 · Nama lain：510-1983 510-1983 - IEEE Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing

IEEE Std 510-1983（IEEE Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1983 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Sumber

  1. IEEE Std 510-1983 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=510-1983; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01