IEEE Std 510-1983（IEEE Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1983 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 510-1983
IEEE Std 510-1983 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1983 年。
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แหล่งที่มา
- IEEE Std 510-1983 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=510-1983; status=Inactive; modifier=Withdrawn
↩ ↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01